集成电路检测设备,集成电路高温老炼系统可对各种封装形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模拟电路、数字电路、光电耦合器等施加单一信号源信号进行高温工作寿...
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技术文章集成电路检测设备,集成电路高温老炼系统可对各种封装形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模拟电路、数字电路、光电耦合器等施加单一信号源信号进行高温工作寿...
查看详情集成电路高温老炼系统可对各种封装形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模拟电路、数字电路、光电耦合器等施加单一信号源信号进行高温工作寿命试验、稳态老炼筛...
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